一、薄膜折射率測(cè)試概述

　　RT-V 系列反射透射測(cè)量?jī)x，采用進(jìn)口氘鹵二合一光源，結(jié)合高性能分光光譜儀，可測(cè)量獲得紫外到近紅外光譜范圍內(nèi)薄膜的反射率和透射率光譜，并進(jìn)一步計(jì)算獲得樣品色坐標(biāo)，以及薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)等信息。

　　高性價(jià)比穿透率、反射率測(cè)量解決方案

　　色坐標(biāo)計(jì)算和薄膜特征解析

　　模塊化定制，支持在線集成應(yīng)用

　　二、薄膜折射率測(cè)試產(chǎn)品特點(diǎn)

　　采用高性能進(jìn)口氘鹵二合一光源，光譜范圍覆蓋可見(jiàn)光到近紅外范圍；

　　支持全光譜范圍反射率高精度量測(cè)，基于薄膜層上下界面反射光干涉原理，輕松解析單層至多層薄膜特征；

　　三、薄膜折射率測(cè)試產(chǎn)品應(yīng)用

　　RT系列反射透射測(cè)量?jī)x，可實(shí)現(xiàn)各種透明、低對(duì)比度、高反射率樣品反射率和穿透率光譜快速精準(zhǔn)測(cè)量，并進(jìn)一步計(jì)算獲得樣品色坐標(biāo)、薄膜樣品厚度及光學(xué)常數(shù)。廣泛應(yīng)用于各種濾光片、濾鏡、鏡頭、玻璃、染色液、薄膜的測(cè)量。

　　薄膜折射率測(cè)試儀主要基于光學(xué)原理，通過(guò)檢測(cè)光在薄膜中的傳播特性來(lái)確定薄膜的折射率。常見(jiàn)的原理包括反射法和透射法。

　　反射法

　　當(dāng)光線照射到薄膜表面時(shí)，一部分光被反射回來(lái)。根據(jù)菲涅爾公式，反射光的強(qiáng)度、偏振狀態(tài)等與薄膜的折射率有關(guān)。

　　例如，對(duì)于垂直入射的光，在兩種介質(zhì)（如空氣和薄膜）的界面處，反射率是周圍介質(zhì)（如空氣）的折射率。通過(guò)測(cè)量反射光的強(qiáng)度等參數(shù)，可以反推出薄膜的折射率。

　　橢圓偏振法是一種先進(jìn)的反射式測(cè)試方法。它利用橢圓偏振光照射薄膜，由于薄膜對(duì)不同偏振方向的光具有不同的反射系數(shù)，導(dǎo)致反射光的偏振狀態(tài)發(fā)生變化。通過(guò)分析這種變化，可以得到薄膜的折射率和厚度等信息。

　　透射法

　　光透過(guò)薄膜時(shí)，會(huì)發(fā)生折射和部分吸收。根據(jù)斯涅爾定律，光從一種介質(zhì)進(jìn)入另一種介質(zhì)時(shí)，會(huì)發(fā)生折射，折射角與兩種介質(zhì)的折射率有關(guān)。

　　對(duì)于透射光，其強(qiáng)度也會(huì)受到薄膜的折射率和厚度的影響。例如，當(dāng)光垂直入射時(shí)，透射光強(qiáng)度是入射光強(qiáng)度d是薄膜厚度。通過(guò)測(cè)量透射光的強(qiáng)度、相位等參數(shù)，結(jié)合已知的薄膜厚度等信息，可以計(jì)算出薄膜的折射率。

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