測(cè)試測(cè)量?jī)x器，無(wú)損檢測(cè)儀器
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更新日期2025-07-11 14:32
品牌： |
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2026-01-08 |
WEK35391-2017空間分辨力測(cè)試卡,WEK35391-2017分辨力測(cè)試卡詳細(xì)介紹：
WEK35391-2017空間分辨力測(cè)試卡,WEK35391-2017分辨力測(cè)試卡每個(gè)線對(duì)組由4塊規(guī)格尺寸相同的薄片平行排列構(gòu)成（薄片之間用與薄片等厚的金屬隔片隔開(kāi)），兩側(cè)放置最厚薄片的2倍厚度的校準(zhǔn)塊，每組線對(duì)卡里面的金屬片組間隔為2.5mm。
1)Ⅲ級(jí)線對(duì)卡
2)Ⅱ級(jí)線對(duì)卡
3)工級(jí)線對(duì)卡;
線對(duì)卡是用來(lái)測(cè)試工業(yè)CT系統(tǒng)空間分辨力的一種標(biāo)準(zhǔn)試件,它是由鋼、硅或其他由供需雙方商定的材料制作的薄片構(gòu)成的線對(duì)組,每個(gè)線對(duì)組由4塊規(guī)格尺寸相同的薄片平行排列構(gòu)成(薄片之間用與薄片等厚的金屬隔片隔開(kāi)),兩側(cè)放置最厚薄片的2倍厚度的校準(zhǔn)塊,其三維結(jié)構(gòu)如圖1、正視圖如圖2所示。
每個(gè)線對(duì)組中的薄片厚度為T(mén)，相鄰片間隙寬度(金屬隔片厚度)也為 T。各種等級(jí)線對(duì)卡的薄片厚度 T 及其對(duì)應(yīng)的線對(duì)數(shù)見(jiàn)表 A.1。
等級(jí) | 第1組 | 第2組 | 第3組 | 第4組 | 第5組 | |||||
片厚T mm | 線對(duì)數(shù) Lp/mm | 片厚T mm | 線對(duì)數(shù) Lp/mm | 片厚T mm | 線對(duì)數(shù) Lp/mm | 片厚T mm | 線對(duì)數(shù) Lp/mm | 片厚T mm | 線對(duì)數(shù) Lp/mm | |
Ⅲ級(jí) | 0.100 | 5.0 | 0.125 | 4.0 | 0.150 | 3.3 | 0.200 | 2.5 | 0.250 | 2.0 |
Ⅱ級(jí) | 0.150 | 3.3 | 0.200 | 2.5 | 0.250 | 2.0 | 0.300 | 1.7 | 0.500 | 1.0 |
Ⅰ級(jí) | 0.250 | 2.0 | 0.300 | 1.7 | 0.500 | 1.0 | 0.650 | 0.8 | 1.000 | 0.5 |
每個(gè)線對(duì)組中的薄片長(zhǎng)度L 為10mm，寬度W為8mm。
外型尺寸長(zhǎng)(L)，寬(W)，高(H)，單位：mm。
| 圖片 | | | |
等級(jí) | Ⅰ級(jí) | Ⅱ級(jí) | Ⅲ級(jí) |
| 線對(duì) | 0.5至2.0LP/m | 1.0至3.3LP/m | 2.0至5.0LP/m |
| 尺寸（mm） | 45Lx26Wx20H
| 33Lx26Wx20H | 30Lx26Wx20H |
1)Ⅱ級(jí)圓孔卡或Ⅱ級(jí)細(xì)絲卡
2)工級(jí)圓孔卡或I級(jí)細(xì)絲卡;
圓孔卡是在均質(zhì)圓柱形基體上,加工一系列直徑不同的圓形孔,圓孔按行有序排列,其結(jié)構(gòu)如圖3所示。細(xì)絲卡是在均勻低密度圓柱形基體上,排列一系列直徑不同的細(xì)絲,細(xì)絲按行有序排列。
圓盤(pán)卡是由均質(zhì)的剛性材料制作的圓柱體,其結(jié)構(gòu)如下圖所示。圓盤(pán)卡材質(zhì)應(yīng)與被檢測(cè)物體的射線吸收特性相同或相近,推薦使用鋼或硅(或由供需雙方商定的材料制作)。
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